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QT-9000 Series
大规模集成电路测试系统(Direct Mount) QT-9000
QT-8000 Series
数字模拟混合信号IC测试系统(Cable Mount) QT-8100
数位模拟混合信号IC测试系统(Direct Mount)QT-8200
大功率增强型混合信号IC测试系统 (Cable Mount)QT-8100HP
QT-7000 Series
集成电路测试系统 (Cable Mount)QT-7200
QT-6000 Series
分立器件高速测试系统 QT-6000
QT-4000 Series
分立器件测试系统 QT-4100
综合测试平台 TB-14
QT-3000 Series
雪崩测试仪QT-3101
热阻测试仪 QT-3102
MOSFET RG/CG 测试系统 QT-3107

Test System

QT-3000 Series雪崩测试仪QT-3101

雪崩测试仪QT-3101

QT-3101适用于测试MOSFET、IGBT、二极管的雪崩参数。
• 输出测量能力:最大测量BVdss:±2000V/2500V 最大输出ID:±150V 、±200A。
• 可编辑VG MAX:±30V脉宽调节(分辨率:1us)。
• 可编程电感箱负载10μH-100mH步进10μH100uH-59.9mH步进100uH或者定制。
• 可编程分选机接口信号24个。

  • 产品优势
    • 支持VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)测试
    • 内置示波器
    • 极限能量扫描测试。
    • 可设定单脉冲、多脉冲或者双MOSFET测试
    • 可与QT-4100B共用一台电脑,实现测试程序和数据统一管理

    *对于所有技术参数公司有权随时修订,不作另行通知。
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